介紹ICP光譜儀基體干擾的消除方法

　　電感耦合等離子體發射光譜儀又稱為ICP光譜儀、ICP原子發射光譜儀，以電感耦合高頻等離子體為激發光源，利用每種元素的原子或離子發射特征光譜來判斷物質的組成，進行元素的定性與定量分析。

　　基體的抑制作用一方面是由于高濃度的基體存在增了分析溶液的黏度和表面張力，降低了傳輸速率，從而降低分析信號．另一方面可能是阻擋效應的結果，即量基體的存在阻擋了分析物粒子與電子的碰撞激發，降低了激發幾率，這些干擾因素是同時進行的。

　　基體干擾的消除:

　　1、標準加入法

　　對于組成復雜的樣品共存元素濃度的變化往往引起背景水平的變化，共存組分的線光譜和帶光譜及各種形式的雜散光會使背景信號移動。標準加入法是一種不需要預先了解樣品基體的光譜而又能夠校正這些干擾和基體效應的方法，傳統的外推值標準加入法的缺點在于ICP的背景等效濃度BEC較高且不穩定。

　　2、預分離及預富集

　　對基體進行分離，對待測元素進行預富集不僅可以提高分析靈敏度、改善檢出限，更重要的是有助于消除和減基體對分析元素的光譜干擾和非光譜干擾。

　　3、基體匹配法

　　所謂基體匹配法，就是使用來建立工作曲線的標準溶液與分析樣品溶液的主成分濃度和酸濃度匹配的方法。由于主成分相似，其對分析元素的非光譜干擾相似，用匹配的方法就可以扣除基體或主成分的非光譜干擾，在ICP-AES分析中應用比較普遍。